Texas Instruments 8V182512IDGGREP IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

چین
پیشہ ورانہ الیکٹرانک اجزاء فراہم کنندہ

کیٹلاگ مینوفیکچررز CN ICs

تصویر کی نمائندگی ہو سکتی ہے۔
پروڈکٹ کی تفصیلات کے لیے وضاحتیں دیکھیں۔

ڈیٹا شیٹ

8V182512IDGGREP

IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

حصے کا نمبر

8V182512IDGGREP

مینوفیکچرر/برانڈ

Texas Instruments

سلسلہ

حصہ کی حیثیت

Active

پیکیجنگ

Cut Tape (CT)

آپریٹنگ درجہ حرارت

-40°C ~ 85°C

چڑھنے کی قسم

Surface Mount

پیکیج / کیس

64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

سپلائر ڈیوائس پیکیج

64-TSSOP

بجلی کی سپلائی

2.7 V ~ 3.6 V

بٹس کی تعداد

منطق کی قسم

ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

اقتباس کی درخواست کریں۔

براہ کرم تمام مطلوبہ فیلڈز کو مکمل کریں اور جمع کروائیں پر کلک کریں، ہم آپ سے 12 گھنٹے میں ای میل کے ذریعے رابطہ کریں گے۔ اگر آپ کو کوئی مسئلہ درپیش ہے، تو براہ کرم پر پیغامات یا ای میل بھیجیں۔ [email protected]، ہم جلد از جلد جواب دیں گے۔

اسٹاک میں 41584 PCS

رابطے کی معلومات