Texas Instruments SN74LVTH18512DGGR IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP

تصویر کی نمائندگی ہو سکتی ہے۔
پروڈکٹ کی تفصیلات کے لیے وضاحتیں دیکھیں۔

ڈیٹا شیٹ

SN74LVTH18512DGGR

IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP

حصے کا نمبر

SN74LVTH18512DGGR

مینوفیکچرر/برانڈ

Texas Instruments

سلسلہ

74LVTH

حصہ کی حیثیت

Active

پیکیجنگ

Digi-Reel®

آپریٹنگ درجہ حرارت

-40°C ~ 85°C

چڑھنے کی قسم

Surface Mount

پیکیج / کیس

64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

سپلائر ڈیوائس پیکیج

64-TSSOP

سرکٹس کی تعداد

18-Bit

وولٹیج - سپلائی

2.7 V ~ 3.6 V

منطق کی قسم

Scan Test Universal Bus Transceiver

کرنٹ - آؤٹ پٹ ہائی، کم

32mA, 64mA

اقتباس کی درخواست کریں۔

براہ کرم تمام مطلوبہ فیلڈز کو مکمل کریں اور جمع کروائیں پر کلک کریں، ہم آپ سے 12 گھنٹے میں ای میل کے ذریعے رابطہ کریں گے۔ اگر آپ کو کوئی مسئلہ درپیش ہے، تو براہ کرم پر پیغامات یا ای میل بھیجیں۔ [email protected]، ہم جلد از جلد جواب دیں گے۔

اسٹاک میں 30828 PCS

رابطے کی معلومات

متعلقہ مصنوعات

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC